800G QSFP112 Kabel Tembaga Pasang Langsung DAC Pasif

BARANG

PERSYARATAN

KONDISI UJI

(Impedansi Diferensial)

Impedansi Kabel

100±5Ω

Waktu naik 25ps

(20 % - 80 %).

Impedansi Kartu Dayung

100±10Ω

Impedansi Pemutusan Kabel

100±10Ω

[Diferensial (Input/Output)Kerugian pengembalian S_DD11/S_DD22]

Pengembalian{{0}}kerugian(f) Lebih besar dari atau sama dengan 16.5-2√f 0,05Kurang dari atau sama denganf﹤4.1

10.66-14catatan₁₀(f/ 5.5)    4.1Kurang dari atau sama denganfKurang dari atau sama dengan40

Dimana f adalah frekuensi dalam GHz

Return loss(f) adalah return loss pada frekuensi f

10MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 40GHz

[Diferensial ke mode umum (Input/Output)Kerugian pengembalian S_CD11/S_CD22]

Pengembalian_kerugian(f) Lebih besar dari atau sama dengan 22-10(f/26.56)     0.05Kurang dari atau sama denganf﹤26.56

                                    15-3(f/26.56)        26.56Kurang dari atau sama denganfKurang dari atau sama dengan40

Dimana f adalah frekuensi dalam GHz

Return_loss(f) adalah Diferensial terhadap return loss mode umum pada frekuensi f

50MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 40GHz

[Mode umum ke mode umum

(Input/Output)Kerugian pengembalian S_CC11/S_CC22]

Pengembalian_kerugian(f)Lebih besar atau sama dengan 1,8dB 0,05Kurang dari atau sama denganfKurang dari atau sama dengan40

Dimana f adalah frekuensi dalam GHz

Return_loss(f) adalah mode umum ke mode umum return loss pada frekuensi f

50MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 40GHz

[Kerugian Penyisipan Diferensial (S_DD21Maks.)]

(Diferensial InsertionLoss Maks. Untuk TPa ke TPb Tidak Termasuk perlengkapan Uji)

50MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 40GHz

Penyisipan {{0}}kerugian(f) Lebih besar dari atau sama dengan -19.75dB 0,05 Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 26,56

Dimana f adalah frekuensi dalam GHz

Rugi Penyisipan (f) Rugi Penyisipan Diferensial pada frekuensi f

[Penyimpangan Kerugian Penyisipan]

{{0}}.176*f - 0.7 Kurang dari atau sama dengan ILD Kurang dari atau sama dengan 0.176* f + 0.7

50MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 26.56GHz

Diferensial ke mode umum Rugi Konversi-Rugi Penyisipan Diferensial (S_CD21-S_DD21)

Konversi {{0}}kerugian(f) – IL(f) Lebih besar atau sama dengan 10                 0.05Kurang dari atau sama denganf﹤12.89

                                                   14-0.3108f   12.89Kurang dari atau sama denganf﹤40

Di mana

f adalah frekuensi dalam GHz

Kerugian_konversi(f ) adalah perbedaan rakitan kabel terhadap kerugian konversi mode umum

IL(f) adalah kerugian penyisipan rakitan kabel

50MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 40GHz

[MDNEXT (banyak pengganggu

crosstalk jarak dekat)]

Greater than or equal to 35dB @26.5GHz

10MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 26.5GHz

[Intra Kemiringan]

10ps/m,

10MHz Kurang dari atau sama dengan f Kurang dari atau sama dengan 26.5GHz

BARANG

PERSYARATAN

KONDISI UJI

[Resistensi Kontak Tingkat Rendah]

70miliohm Maks. Dari awal.

EIA-364-23:Terapkan tegangan maksimum 20mV

Dan arus 100 mA.

Resistensi Isolasi

10Mohm(Min.)

EIA364-21:AC 300V 1 menit

[Tegangan Penahan Dielektrik]

TIDAK ADA pelepasan yang mengganggu.

EIA-364-20:Terapkan tegangan 300 VDC selama 1 menit antara terminal yang berdekatan

Dan antara terminal yang berdekatan dan ground.

BARANG

PERSYARATAN

KONDISI UJI

[Suhu Operasional. Jangkauan]

0 derajat hingga +70 derajat

Kisaran suhu pengoperasian kabel.

[Suhu Penyimpanan. Jangkauan

(dalam kondisi dikemas)]

-40 derajat hingga +80 derajat

Kisaran suhu penyimpanan kabel

dalam kondisi dikemas.

[Siklus Termal Tanpa Tenaga]

Tidak ada bukti kerusakan fisik

EIA-364-32D, Metode A, -25 hingga 90C, 100 siklus, 15 menit. tinggal

[Penyemprotan Garam]

Penyemprotan garam 48 jam setelah cangkang

area korosif kurang dari 5％.

AMDAL-364-26

Gas Mengalir Campuran

Lulus tes kelistrikan per 3.1 setelahnya

menekankan. (Hanya untuk konektor)

EIA-364-35 Kelas II, 14 hari.

Suhu. Kehidupan

Tidak ada bukti kerusakan fisik

EIA-364-17C w/ RH, Panas lembab 90 derajat pada 85% RH selama 500 jam lalu kembali ke suhu sekitar

Tikungan Dingin Kabel

4H, Tidak ada bukti kerusakan fisik

Kondisi: -20 derajat ±2 derajat , diameter mandrel 6 kali diameter kabel.

BARANG

PERSYARATAN

KONDISI UJI

Getaran

Lulus tes kelistrikan

per 3.1 setelah stres.

Jepit & getarkan per EIA-364-28E,

TC-VII, huruf kondisi pengujian – D, 15 menit pada sumbu X, Y & Z.

Kabel Fleksibel

Tidak ada bukti kerusakan fisik

Kabel fleksibel 180 derajat selama 20 siklus (±90 derajat dari posisi nominal) dengan kecepatan 12 siklus per menit dengan beban 1,0kg diterapkan pada jaket kabel. Lenturkan area boot 90º di setiap arah dari vertikal. Berdasarkan AMDAL-364-41C

Retensi Steker Kabel di Sangkar

125 N menit.

Tidak ada bukti kerusakan fisik

Tidak ada kerusakan fungsional pada modul, konektor, atau sangkar dengan mekanisme kait diaktifkan.

Per OSFP {{0}}Spesifikasi_Rev5_0 5.0

Retensi Kabel di Steker

menit 90N.

Tidak ada bukti kerusakan fisik

Steker kabel dipasang dengan kabel curah yang digantung secara vertikal. Beban aksial 90N diterapkan (secara bertahap) pada jaket kabel dan ditahan selama 1 menit. Berdasarkan AMDAL-364-38B

Kejutan Mekanis

Lulus tes kelistrikan

Per 3.1 setelah stres.

Penjepit dan guncangan per EIA-364-27B, TC-G,3 kali dalam 6 arah, 100g, 6ms.

Penyisipan Steker Kabel

Maksimum 40N(55N)

Per OSFP {{0}}Spesifikasi_Rev5_0 5.0

Modul untuk dimasukkan ke dalam konektor dan sangkar dengan mekanisme kait aktif.

(55N jika sangkar dilengkapi heatsink)

Ekstraksi steker kabel

30N Maks. (45N)

Per OSFP {{0}}Spesifikasi_Rev5_0 5.0

Modul harus dilepas dari konektor dan sangkar dengan mekanisme kait dilepas.

(45N jika sangkar dilengkapi heatsink)

Daya tahan

50 siklus, Tidak ada bukti kerusakan fisik

Per OSFP {{0}}Spesifikasi_Rev5_0 5.0,

Jumlah siklus untuk masing-masing modul, yang akan diuji dengan sangkar, konektor, dan modul; kait mungkin terkunci selama pengujian